ICS 97∙200.40
Y 57
GB/T 34370.6—2017
NOndeStrUCtiVe testing Of amusement equipments— Part 6: RadiOgraPhiC testing
2017-09-29 发布
2018-04-01 实施
S3
GB/T 34370＜游乐设施无损检测 ＞分为以下6部分：
——第1部分:总则3
——第2部分：目视检测；
——第3部分:磁粉检测J
——第4部分:渗透检测；
—第5部分:超声检测：
——第6部分:射线检测。
本部分为GB/T 34370的第6部分。
本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本部分由全国索道与游乐设施标准化技术委员会(SAC/TC 250)提出并归口。
本部分起草单位：中国特种设备检测研究院、山东科捷工程检测有限公司、天津市特种设备监督检 验技术研究院、温州南方游乐设备工程有限公司、中山金马科技娱乐设备有限公司、江苏省特种设备安 全监督检验研究院。
本部分主要起草人：沈功田、胡斌、梁玉梅、刘铎欢、张劲松、赵欣、周蕊、吴占稳、王伟华、徐达、 林金贵、廖绪文、黄琪。
1范围
GB/T 34370的本部分规定了游乐设施的熔化焊对接接头的X射线和γ射线检测技术和质量分级 要求.
本部分适用于游乐设施厚度为2 mm〜200 mm的碳素钢、低合金钢和不锈钢对接焊接接头的射线 检测.
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T 11533标准对数视力表
GB/T 12604.2无损检测术语射线照相检测
GB 18871电离辐射防护与辐射源安全基本标准
GB/T 19348.1无损检测 工业射线照相胶片
第1部分:工业射线照相胶片系统的分类
第2部分:用参考值方法控制胶片处理
最低要求
GB/T 19348.2无损检测工业射线照相胶片
GB/T 19802
无损检测工业射线照相观片灯
游乐设施术语
无损检测通用术语和定义
无损检测射线照相检测用金属增感屏
GB/T 20306
GB/T 20737
GB/T 23910
GB/T 34370.1游乐设施无损检测 第1部分：总则
GBZll7工业X射线探伤卫生防护标准
GBZ 132工业y射线探伤卫生防护标准
JB/T 7902无损检测射线照相检测用线型像质计 3术语和定义
透照厚度 Penetrated thickness
W
射线照射方向上材料的公称厚度。多层透照时,透照厚度为通过的各层材料公称厚度之和。
工件至胶片距离 ObjeCt-to-film distance b
沿射线束中心测定的工件受检部位射线源侧表面与胶片之间的距离。
射线源至工件距离 SOUrCe-to-object distance f
沿射线束中心测定的工件受检部位射线源与受检工件近源側表面之间的距离。
焦距 focal distance
F
沿射线束中心测定的射线源与胶片之间的距离。
射线源尺寸SOUrCe SiZe
d
射线源的有效焦点尺寸。
透照厚度比 ratio Of max. and min. Penetrate(I thickness
K
一次透照长度范围内射线束穿过母材的最大厚度与最小厚度之比。
底片评定范围 film evaluation SCOPe
规定底片上必须观测和评定的范围。
形缺陷 round flaw
长宽比不大于3的气孔、夹渣和夹鸨等缺陷。
条形缺陷StriPy flaw
长宽比大于3的气孔、夹渣和夹鲁等缺陷。
4方法概要
射线检测是利用物质对射线吸收的原理,通过获得缺陷部位导致物体对射线的吸收改变，引起透射 射线强度的变化,来判断工件中是否存在缺陷以及缺陷的位置、大小，如图1所示。按照射线源可分为 X射统检测"射线检测等;按照成像方式可分为胶片射线检测成像、计算机辅助胶片成像(CR)和数字 射线成像(DR)J按照检测方式可分为固定式检测和移动式检测。
射线源
X射经胶片
= 相对•光■少
= 相对♦光♦多
显影处理后胶片的偏視图
图1射线检测原理示意图
5安全要求
检测过程中的安全要求至少包括：
a） 检测人员应遵守被检件现场的安全要求,根据检测地点的要求穿戴防护工作服和佩戴有关防 护设备。
b） 游乐设施运行后进行检测，应注意被检件的温度状态，以免烫伤。
C）放射卫生防护应符合GB 18871、GBZ 117和GBZ 132的有关规定。
d） 现场进行X射线检测时,应按GBZ 117的规定划定控制区和管理区、设置警告标志。检测工 作人员应佩戴个人剂量计,并携带剂量报警仪。
e） 现场进行〉射线检测时,应按GBZ 132的规定划定控制区和监督区、设置警告标志。检测作 业时,应围绕控制区边界测定辐射水平。检测工作人员应佩戴个人剂量计，并携带剂量报 警仪。
f） 本章没有列出进行检测时所有的安全要求,使用本部分的用户应在检测前建立安全准则。
6人员要求
从事射线检测人员除应符合GB/T 34370.1的有关规定外,上岗前应进行辐射安全知识的培训，并 取得放射工作人员证。射线检测人员的未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于5.0（小 数记录值为L0）,测试方法应符合GB/T 11533的规定。从事评片的人员应每12个月检査一次视力。
7检测设备和器材
7.1成像系统
成像系统可采用胶片成像,也可采用计算机辅助胶片成像（CR）和数字射线成像（DR）O
7.2射线胶片
7.2.1胶片系统按照GB/T 19348.1分为六类，即Cl、C2、C3、C4、C5和C6类。CI为最高类别,C6为
3
最低类别。
7.2.2胶片应按制造商推荐的温度和湿度等条件予以保存。
7.2.3采用X射线检测时,应选用C5类或更高类别的胶片［采用γ射线检测时,应选用C4类或更高类 别的胶片。
7.3观片灯
观片灯的主要性能应符合GB/T 19802的有关规定。
7.4黑度计（光学密度计）和标准密度片 7.4.1黑度计可测的最大黑度应不小于4.5,测量值的误差应不超过±0.05.
7.4.2黑度计应使用标准密度片至少每6个月校验一次。
7.4.3标准密度片应每两年检定一次。
7.5増感屏
射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏。增感屏的选用应符合GB/T 23910和表1的 规定。
表1増感屏的材料和厚度
单位为毫米
|
射统源 |
前屏_________ |
后屏 | ||
|
材料 |
厚度∕mm |
材料 |
厚度∕mm | |
|
X 射线(≤100 kV) |
铅 |
不用或≤0.03β |
铅 |
≤0.03 |
|
X射线 OlOO kV〜150 kV) |
船 |
≤0.15 |
β |
≤0.15 |
|
X射线 0150 kV〜250 kV) |
船 |
0.02 〜0.15 |
铅 |
0.02 〜0.15 |
|
X射统 0250 kV〜300 kV) |
0.02 〜0.2 |
0.02 〜0.2 | ||
|
Se75 |
铅 |
0.1—0.2 |
格 |
0.1 〜0.2 |
|
Irl92 |
铅 |
0.1 〜0.2 |
铅 |
0.1 〜0.2 |
|
Co60 |
钢或铜 |
0.25—0.7 |
钢或铜 |
0.25—0.7 |
|
____«____ |
0.5 〜2.0 |
_____e_____ |
0.5—2.0 | |
,使用前屏≤0.03 mm的Jt空包装胶片,应在工件和胶片之间加0.07 mm〜0.15 mm附加铅屏.
7.6像质计 7.6.1底片影像质量采用线型像质计测定。线型像质计的型号和规格应符合JB/T 7902的规定。
7.6.2应选择像质计材料代号为Fe,其材料为碳钢或奥氏体不锈钢的像质计。
8检测工艺规程
8.1通用检测工艺规程
从事游乐设施射线检测的单位应按GB/T 34370.1和本部分的要求制定通用检测工艺规程,其内
容至少应包括如下要素：
a） 文件编号'
b） 适用范围；
C）执行标准、法规；
d） 检测人员资格；
e） 检测仪器设备:名称、型号、源尺寸等，
f） 被检件的信息:名称、编号、规格、材质、坡口型式、焊接方法、热处理状况；
g） 工件透照部位示意图,
h） 透照规范：技术等级、透照布置、胶片、増感屏、射线能量、曝光量、焦距、暗室处理方式和条
件等3
i） 检测时机；
j） 检测过程和数据分析解释；
k） 检测结果的评定和分级J
D 检测记录、报告格式；
m） 资料存档；
n） 编制（级别）、审核（级别）和批准人员签字及日期。
8.2检测工艺卡
对于每个被检件,根据使用的仪器和现场实际情况,按照GB/T 34370.1、本部分和通用检测工艺规 程编制射线检测工艺卡,确定检测的部位和实施条件，如工件透照部位、源安装的部位和表面条件。应 对每个被检件进行测绘，画出被检件结构示意图和透照部位示意图。
透照方法和部位的确定,应保证工件被检部分均能得到充分检査。
游乐设施制造安装和在用射线检测中，检测时机及抽检率的选择等应按法规、产品标准及有关技术 文件的要求和原则进行。
检测工艺卡内容应至少包括：
a）
b）
C）
d）
工艺卡编号；
检测执行的标准和质量等级要求,
被检测工件的信息：名称、编号、材质、规格尺寸、热处理状态、焊接型式等；
检测设备:名称、规格型号、编号/源尺寸（或有效焦点尺寸）等；
透照规范:检测技术等级、透照布置、胶片（牌号及其分类等级）、增感屏（类型、数量和厚度）、像 质计、滤光板、背散射屏蔽铅板、射线能量、曝光量或透照时间、射线源与胶片的相对关系、射线 源至工件表面的距离、源侧工件表面至胶片的距离、暗室处理方式和条件等；
f)
g)
h)
j)
k)
l)
检测时机；
检测区域和表面要求；
检测部位示意图，
检测比例，
检测环境要求,
评片记录,
编制（级别）和审核（级别）人员签字及日期。
9检测 9.1检测前的准备 9.1.1资料审査
资料审査应包括下列内容：
a） 被检设备制造文件资料:被检部件的竣工图（含焊缝布置图）、有关设计文件对无损检测的要 求、相关的无损检测报告等，
b） 被检设备运行记录资料:开停车情况、使用环境、使用条件、载荷变化情况以及运行中出现的异 常情况等；
C）检验资料:历次检验检测报告3
d）其他资料:维护保养、修理和改造的文件资料等。
9.1.2现场勘察
应对被检件现场进行勘察,找出所有可能影响检测的因素，如表面条件、结构形式等。在检测时应 尽可能避免这些因素的干扰。
9.1.3检测工艺卡的编制
按8.2执行。
9.1.4表面要求
在射线检测之前,对接焊接接头的表面应经目视检测并合格。表面的不规则状态在底片上的影像 不得掩盖或干扰缺陷影像,否则应对表面作适当修整。
9.1.5检测时机
除非另有规定,射线检测应在焊接完工后进行。对有延迟裂纹倾向的材料,至少应在焊接完成24 h 后进行射线检测。
9.2透照布置
9.2.1透照方式
应根据工件的特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。在可以实施的情况下应选用单壁透照 方式,在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。典型的透照方式参见附录Ae
9.2.2透照方向
透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心,需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。
9.2.3 一次透照长度
一次透照长度以透照厚度比K控制。不同类型焊缝的透照厚度比应符合表2的规定。整条环向 焊接接头所需的透照次数可参见附录B的曲线图确定。
表2允许的透照厚度比K
|
纵向焊接接头 |
K≤1.03 |
|
环向焊接接头 |
K≤l.lβ |
|
,对100 mm<D.≤400 mm的环向焊接接头（包括曲率相同的曲面焊接接头），允许采用K≤1.2. D.为公称 直径. | |
9.2.4胶片有效评定区的搭接
9.2.4.1焊缝进行100%射线检测时,相邻两张胶片的有效评定区应重叠,保证被检测区的完全覆盖。 9.2.4.2如果采用胶片搭接一次透照的方式,应保证底片有效评定区的黑度满足9.12的要求。
9.2.5小径管对接接头的透照布置
小径管采用双壁双影透照布置，当满足下列条件时应采用倾斜透照方式椭圆成像：
T（壁厚）<8 mmj
g（焊缝宽度）≤Dβ∕4
椭圆成像时,应控制影像的开口宽度（上下焊缝投影最大间距）在1倍焊缝宽度左右。不满足上述 条件或椭圆成像困难时可采用垂直透照方式重叠成像。
9.2.6小径管对接接头的透照次數
采用倾斜透照椭圆成像时，当T∕D.≤0.12时,相隔90°透照2次。当T∕D.>QΛ2时，相隔120°或 60°透照3次。垂直透照重叠成像时,一般应相隔120°或60°透照3次。
椭圆成像时,应控制影像的开口宽度（上下焊缝投影最大间距）在1倍焊缝宽度左右。
对公称直径Dβ≤80 mm、壁厚T≤6 mm的小径管，由于结构原因不能进行多次透照时，经合同各 方同意,可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次,此时应采取有效措施扩大缺陷可检出范围，并保证 底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求。
9.3射线能■
9.3.1 X射线照相应尽量选用较低的管电压。在采用较高管电压时,应保证适当的曝光量。钢的不同 透照厚度允许采用的最高X射线管电压应根据仪器生产厂家推荐值进行确定。
对截面厚度变化大的工件,经合同各方同意，允许采用超过厂家推荐的X射线管电压。对钢最高 不应超过50 kVβ
9.3.2 >射线源适用的透照厚度范围应符合表3的规定。
经合同各方同意,在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到9.12.3要求的前提下，Irl92源的 最小透照厚度可降至10 mm,Se75源的最小透照厚度可降至5 mm。
衰3钢的Y射线通照厚度范围 单位为毫米
|
射线源 I 一 |
透照厚度W |
|
Se75 |
IoVwV40 |
|
Irl92 |
20≤W≤100 |
|
Co60 |
40≤W≤200 |
9.4射线源至工件衰面的最小距离
9.4.1所选用的射线源至工件表面的距离/应满足下式的要求'
/ ≥ ιoa • bl,z
图2是确定/的诺模图,有效焦点尺寸d按附录C的规定计算。
EE、PkK 嶼蝦*⅛
5 OO On
3 000 —
2 000 —
1000 —
500 —
300 —
200 —
100 —
60 —
000 OOO O 1 8 6 5 4 3 三二二二UillliM-
30 — 20
10 —
图2确定焦点至工件表面距离的诺模图
9.4.2采用源在内中心透照方式周向曝光时，只要得到的底片质量符合9.12的要求，，值可以减小,但 减小值最多不应超过规定值的50%。
9.4.3采用源在内单壁透照方式时，只要得到的底片质量符合9.12的要求,，值可以减小,但减小值最 多不应超过规定值的20%.
9.5 1«光・
9.5.1 X射线照相，当焦距为70Omm时，曝光量的推荐值不小于15 mA ∙ mino当焦距改变时可按平
8
方反比定律对曝光量进行换算。
9.5.2采用y射线源透照时，总的曝光时间至少应不小于输送源往返所需时间的IO倍。
9.6 ■光曲线
9.6.1对每台在用的X射线设备均应做出游乐设施常用材料的曝光曲线，依据曝光曲线确定曝光 参数。
9.6.2制作曝光曲线所采用的胶片、增感屏、焦距、射线能量等条件和底片应达到的灵敏度、黑度等参 数均应符合本部分的规定。
9.6.3对使用中的曝光曲线，每年至少应校验一次。射线设备更换重要部件或经较大修理后应及时对 曝光曲线进行校验或重新制作。
9.6.4采用〉射线源时,可选用曝光尺等方式计算曝光时间。
9.7无用射线和散射线屏蔽
9.7.1应采用金属增感屏、铅板、滤光板和准直器等适当措施，屏蔽散射线和无用射线，限制照射场 范围。
9.7.2对初次制定的检测工艺或检测工艺的条件、环境发生改变时,该检测工艺在应用于正式检测时 应进行背散射防护检査。
检査背散射防护的方法是：在暗盒背面贴附"B”铅字标记，一般B铅字的高度为13 mm、厚度为
1.6 mm,按检测工艺的规定进行透照和暗室处理。若在底片上出现黑度低于周围背景黑度的字影 像,则说明背散射防护不够,应增大背散射防护铅板的厚度。若底片上不出现字影像或出现黑度高 于周围背景黑度的字影像,则说明背散射防护符合要求。
9.8像质计的使用
9.8.1像质计一般应放置在工件源侧表面焊缝的一端（在被检区长度的1/4左右位置），金属丝应横跨 焊缝,细丝置于外侧。当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，像质计应放置在透照区最边缘的焊 缝处.
9.8.2像质计放置原则
a）
单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照像 质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧。
b)
C)
单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧,允许放置在胶片侧。
单壁透照中像质计放置在胶片侧时,应进行对比试验•对比试验方法是在射源侧和胶片侧各 放一个像质计,用与工件相同的条件透照,测定出像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差异, 以此修正像质指数规定，以保证实际透照的底片灵敏度符合要求。
d)
当像质计放置在胶片侧时,应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，F标记的影像应与 像质计的标记同时出现在底片上,且应在检测报告中注明.
9.8.3原则上每张底片上都应有像质计的影像。当一次曝光完成多张胶片照相时,允许减少使用的像 质计数量：
a） 环向焊接接头采用源置于中心周向曝光时,至少在圆周上等间隔地放置3个像质计；
b） 一次曝光连续排列的多张胶片时，至少在第一张、中间一张和最后一张胶片处各放置一个像 质计.
9.8.4小径管可选用普通线型像质计或附录D规定的专用（等径金属丝）像质计时,金属丝应横跨焊缝
9
放置.像质计应置于源侧，当无法放置在源侧时,可将像质计置于胶片侧。
9.8.5底片上,在黑度均匀区（一般是邻近焊缝的母材金属区）能够清晰地看到长度不小于IO mm的连 续的金属丝影像时,则该丝认为是可识别的。专用像质计应能识别不少于两根金属丝。
9.9标记
9.9.1透照部位的标记由识别标记和定位标记组成。标记一般由适当尺寸的铅（或其他适宜的重金 属）制数字、拼音字母和符号等构成。
9.9.2识别标记一般包括：制造单位（和/或检测单位）标识、产品编号、焊接接头编号、部位编号和透照 日期。返修后的透照还应有返修标记,扩大检测比例的透照还应有扩大检测标记。
9.9.3定位标记一般包括中心标记和搭接标记。中心标记指示透照部位区段的中心位置和分段编号 的方向，一般用十字箭头“4”表示。搭接标记是连续检测时的透照分段标记,可用符号“ ”或其他能 显示搭接情况的方法表示。
9.9.4标记一般应放置在距焊缝边缘至少5 mm以外的部位,搭接标记放置的部位还应符合附录E的 规定。所有标记的影像不应重叠,且不应干扰有效评定范围内的影像。
9.10胶片处理 9.10.1可采用自动冲洗或手工冲洗方式处理,推荐采用自动冲洗方式处理。
9.10.2胶片处理一般应按胶片使用说明书的规定进行。
9.11评片要求 9.11.1评片一般应在专用的评片室内进行。评片室应整洁、安静，温度适宜,光线应暗且柔和•
9.11.2评片人员在评片前应经历一定的暗适应时间。从阳光下进入评片的暗适应时间一般为5 min
10 min；从一般的室内进入评片的暗适应时间应不少于30 Se
9.11.3
评片时,底片评定范围内的亮度应符合下列规定：
当底片评定范围内的黑度D≤2.5时,透过底片评定范围内的亮度应不低于30 cd∕m2 J
当底片评定范围内的黑度D>2.5时,透过底片评定范围内的亮度应不低于10 cd∕m2β
底片评定范围的宽度一般为焊缝本身及焊缝两侧5 mm宽的区域。因结构或焊接方法等原因
a）
需要增大焊缝两侧评定宽度的，评定范围的宽度由合同各方商定。
9.12底片质■
9.12.1底片上的标记影像应显示完整、位置正确。
9.12.2底片评定范围内的黑度D应符合下列规定：
9.12.3用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，经合同各方同意，最低黑度允许降至
9.12.4采用多胶片技术时,如以单片观察,单片的黑度应符合以上的要求。
9.12.5对评定范围内的黑度D>4.0的底片，如有计量检定报告证明所用观片灯的亮度能满足4.10.3 的要求,且经合同各方同意,允许进行评定。
9.12.6底片的像质计灵敏度
单壁透照、像质计置于源侧时应符合表4的规定，双壁双影透照、像质计置于源侧时应符合表5的 规定;双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧时应符合表6的规定。
9.12.7底片评定范围内不应存在干扰缺陷影像识别的水迹、划痕和斑纹等伪缺陷影像。
表4像质计灵敏度值——单壁透照、像质计置于源側
单位为毫米
|
应识别丝号 （丝径） |
公称厚度T范围 |
|
18(0.063) |
■ |
|
17(0.080) |
≤2.0 |
|
16(0.100) |
>2.0 〜3.5 |
|
15(0.125) |
>3.5 〜5.0 |
|
14(0.160) |
>5.0 〜7 |
|
13(0.20) |
>7 〜10 |
|
12(0.25) |
>10 〜15 |
|
11(0.32) |
>15 〜25 |
|
10(0.40) |
>25 〜32 |
|
9(0.50) |
>32 〜40 |
|
8(0.63) |
>40 〜55 |
|
7(0.80) |
>55 〜85 |
|
6(1.00) |
>85 〜150 |
|
5(1.25) |
>150—250 |
|
4(1.60) |
>250〜350 |
|
3(2.00) |
>350 |
|
2(2.50) |
— |
单位为毫米
«5像质计灵敏度值——双壁双影透照、像质计置于源側
|
__________应识别丝号（丝径）__________ |
透照厚度W范围 |
|
.18(0.063) |
— |
|
17(0.080) |
≤2.0 |
|
16(0.100) |
>2 〜3.5 |
|
15(0.125) |
>3.5 〜5.0 |
|
14(0.160) |
>5〜7 |
|
13(0.20) |
>7 〜12 |
|
12(0.25) |
>12 〜18 |
|
11(0.32) |
>18-30 |
|
10(0.40) |
>30 〜40 |
|
9(0.50) |
>40 〜50 |
|
8(0.63) |
>50 〜60 |
|
7(0.80) |
>60 〜85 |
|
6(1.00) |
>85 〜120 |
|
5(1.25) |
I |
表6像质计灵敏度值——双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片側 单位为毫米
|
应识别丝号（丝径） |
透照厚度W范围 |
|
18(0.063) | |
|
17(0.080) |
≤2.0 |
|
16(0.100) |
>2.0 〜3.5 |
|
15(0.125) |
>3.5 〜5.0 |
|
14(0.160) |
>5 〜10 |
|
13(0.20) |
>10 〜15 |
|
12(0.25) |
>15 〜22 |
|
11(0.32) |
>22 〜38 |
|
10(0.40) |
>38 〜48 |
|
9(0.50) |
>48 〜60 |
|
8(0.63) |
>60 〜85 |
|
7(0.80) |
>85 〜125 |
|
6(1.00) |
>125〜225 |
|
5(1.25) |
>225〜375 |
|
4(1.60) |
>375 |
|
3 (2.00) |
— |
9.13检测记录
应按检测工艺规程的要求记录检测数据和有关信息，除此之外，还应至少包括8.2和第12章中的 内容。
10钢制增化焊对接接头射线检测质■分级 10.1质■分级条件
本条规定适用于厚度为2 mm〜200 mm,材质为碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢的熔化焊对接接 头射线检测的质量分级。
10.2缺陷类型
焊接接头中的缺陷按性质区分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷五类。
10.3质■等级的划分
根据焊接接头中存在的缺陷性质、数量和密集程度,焊接接头的质量等级划分为I、II、ni、IV级。
10.4质■分级一般规定
10.4.1 I级焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透和条形缺陷。
10.4.2 II级和In级焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合和未焊透。 12
10.4.3焊接接头中缺陷超过DI级者为IV级。
10.4.4当各类缺陷评定的质量级别不同时，以质量最差的级别作为焊接接头的质量级别。
10.5
形缺陷的分级评定
10.5.1圆形缺陷用评定区进行质量分级评定，缺陷评定区为一个与焊缝平行的矩形,其尺寸见表7。 缺陷评定区应选在缺陷最严重的区域。
« 7缺陷评定区
单位为毫米
|
母材公称厚度T |
≤25 |
>25 〜100 |
>100 |
|
评定区尺寸 |
IOXlO |
10X20 |
10X30 |
10.5.2在缺陷评定区内或与缺陷评定区边界线相割的缺陷均应划入评定区内。将评定区内的缺陷按 表8的规定换算为点数,按表9的规定评判焊接接头的质量级别。
Jft 8缺陷点数换算表
|
缺陷长径∕mm |
≤1 |
>1—2 |
>2〜3 |
>3〜4 |
>4〜6 |
>6〜8 |
>8 |
|
缺陷点数 |
1 |
2 |
3 |
6 |
10 |
15 |
25 |
表9各级允许的圆形缺陷最多点数
|
评定区/(mm×mm) |
10X10 |
10X20 |
10X30 | |||
|
母材公称厚度T/mm |
≤10 |
>10 〜15 |
>15 〜25 |
>25~50 |
>50 〜IOO |
>100 |
|
I级 |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
|
II级 |
3 |
6 |
9 |
12 |
15 |
18 |
|
In级 |
6 |
12 |
18 |
24 |
30 |
36 |
|
IV级 |
__________缺陷点数大于皿级或缺陷长径大于T/2__________ | |||||
|
注：当母材公称厚度不同时,取较薄板的厚度._________________________________ | ||||||
10.5.3由于材质或结构等原因，进行返修可能会产生不利后果的焊接接头，经合同各方同意，各级别 的圆形缺陷点数可放宽1〜2点。
10.5.4当缺陷的尺寸小于表IO的规定时,分级评定时不计该缺陷的点数。I级接头和母材公称厚度 T≤5 mm的II级接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于IO个，超过时接头质量应降低 一级。
表10不计点敷的缺陷尺寸 单位为毫米
|
_________母材公称厚度T_________ |
___________缺陷长径___________ |
|
T≤25 |
≤0.5 |
|
25<T≤50 |
≤0.7 |
|
T>50 |
≤1.4⅜ ・ T |
10.6条形缺陷的分级评定
条形缺陷按表11的规定进行分级评定。
« 11各级对接接头允许的条形缺陷长度 单位为毫米
|
级别 |
单个条形缺陷最大长度___ |
__________一组条形缺陷累计最大长度__________ |
|
I |
_______________________不允许_______________________ | |
|
π |
≤T∕3（⅛小可为4）且<20 |
在长度为12T的任意选定条形缺陷评定区内，相邻缺陷间距不超过6L 的任一组条形缺陷的累计长度应不超过T,但最小可为4 |
|
In |
≤2T∕3（⅛小可为6）且<30 |
在长度为6T的任意选定条形缺陷评定区内，相邻缺陷间距不超过3L的 任一组条形缺陷的累计长度应不超过了,但最小可为6 |
|
IV |
大于ΠI级 | |
|
注1： L为该组条形缺陷中最长缺陷本身的长度3 T为母材公称厚度，当母材公称厚度不同时取较薄板的厚 度值. 注2：条形缺陷评定区是指与焊缝方向平行的、具有一定宽度的矩形区,τ≤25 mm,宽度为4 mm,25 mm<T≤ 100 mm,宽度为 6 mm；T>100 mm,宽度为 8 mm. 注3：当两个或两个以上条形缺陷处于同一直线上、且相邻缺陷的间距小于或等于较短缺陷长度时,应作为1个 缺陷处理,且间距也应计入缺陷的长度之中. | ||
10.7综合评级 10-7.1在圆形缺陷评定区内同时存在圆形缺陷和条形缺陷时,应进行综合评级。
10.7.2综合评级的方法为：对圆形缺陷和条形缺陷分别评定级别,将两者级别之和减一作为综合评级 的质量级别。
11钢管件培化焊环形对接接头射线检测质■分级
11.1质■分级条件
本条规定适用于壁厚τ≥2 mm,材质为碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢的熔化焊环形对接接头射 线检测的质量分级。
11.2缺陷类型
焊接接头中的缺陷按性质区分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷、圆形缺陷、根部内凹和根部咬边 七类。
11.3质■等级的划分
根据焊接接头中存在的缺陷性质、数量和密集程度,划分焊接接头的质量等级为IIV级。
11.4质■分级的一般规定
11.4.1 I级焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷、根部内凹和根部咬边。
11.4.2 II级和DI级焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合,双面焊以及加垫板单面焊中的未焊透。
11.4.3焊接接头中缺陷超过ΠI级者为IV级。
11.4.4当各类缺陷评定的质量级别不同时，以质量最差的级别作为焊接接头的质量级别。
11.5圆形缺陷的分级评定
按10.5的规定进行质量分级评定。但对De≤100 mm小径管缺陷评定区取10 mm×10 mmO
11.6条形缺陷的分级评定
按10.6的规定进行质量分级评定•
11.7不加垫板单面焊的未焊透缺陷的分级评定
管公称直径D.>100 mm时，不加垫板单面焊的未焊透缺陷按表12的规定进行质量分级评定。 管公称直径D.≤100 mm的小径管的不加垫板单面焊的未焊透缺陷按表13的规定进行质量分级评 定。未焊透深度应采用附录F规定的未焊透专用对比块进行测定，测定时未焊透专用对比块应置于管 的源侧表面、靠近被测未焊透缺陷附近部位。
表12管公称直径D,>100mπι时不加垫板单面焊未焊透的分级 单位为毫米
|
级别 |
未焊透最大深度 |
单个未焊透 最大长度 |
未焊透累计长度 | |
|
与壁厚的比 |
最大值 | |||
|
I |
不允许 | |||
|
π |
≤10⅝ |
≤1.0 |
≤T∕3（最小可为4） 且《20 |
在任意6T长度区内应不大于T,且任意300 长度范围内总长度不大于30 |
|
In |
≤15⅝ |
≤1.5 |
<2773（最小可为6） 且<30 |
在任意3T长度区内应不大于T,且任意300 长度范围内总长度不大于40 |
|
IV |
大于In级 | |||
|
注1：对断续未焊透，以未焊透本身的长度累计计算总长度. 注2： T—壁厚. | ||||
表13管公称直径Dt≤100 Inln（小径管）时不加垫板单面焊未焊透的分级 单位为毫米
|
级别 |
未焊透最大深度 |
未焊透总长度与焊缝总长度的比 | |
|
与壁厚的比 |
最大值 | ||
|
I |
___________________不允许___________________ | ||
|
π |
≤10⅜ |
≤1.0 |
≤10⅝ |
|
In |
≤15⅝ |
≤1.5 |
≤15⅝ |
|
IV |
_____________________大于m级_____________________ | ||
|
注：对断续未焊透，以未焊透本身的长度累计计算总长度. | |||
11.8根部内凹和根部咬边的分级评定
管公称直径D.>100 mm时,接头允许存在的根部内凹和根部咬边应符合表14的规定。小径管 允许存在的根部内凹和根部咬边应符合表15的规定。根部内凹和根部咬边深度应采用附录F规定的 沟槽对比块进行测定。测定时沟槽对比块应置于管源侧表面、靠近被测根部内凹或根部咬边缺陷附近 部位。
« 14管公称直径D.>100 mm时根部内凹和根部咬边的分级 单位为毫米
|
级别 |
根部内凹和根部咬边最大深度 |
根部内凹和根部咬边累计长度 | |
|
与壁厚的比 |
最大值 | ||
|
I |
不允许 | ||
|
π |
≤15⅝ |
≤1.5 |
在任意3T长度区内不大于 总长度不大于IOO |
|
In |
≤20⅝ |
≤2.0 | |
|
W |
大于ID级 | ||
|
注：对断续根部内凹和根部咬边，以根部内凹和根部咬边本身的长度累计计算总长度. | |||
表15管公称直径D.≤100mm时根部内凹和根部咬边的分级 单位为毫米
|
级别 |
根部内凹和根部咬边最大深度 |
根部内凹和根部咬边最大总长度 与焊缝总长度的比 | |
|
与壁厚的比 |
最大值 | ||
|
I |
___________________不允许___________________ | ||
|
π |
≤15⅝ |
≤1.5 |
≤30⅝ |
|
In |
≤20⅝ |
≤2.0 |
《30% |
|
N |
大于DI级 | ||
|
注：对断续根部内凹和根部咬边，以根部内凹和根部咬边本身的长度累计计算总长度. | |||
11.9综合评级
11.9.1对公称直径De>100 mm的管道焊接接头,在条形缺陷评定区内同时存在条形缺陷和未焊透、 根部内凹或根部咬边时,应进行综合评级;在未焊透累计长度的评定区（即6T或3T长度区）同时存在 未焊透、根部内凹或根部咬边时,应进行综合评级。
11.9.2综合评级的级别如下确定:对各类缺陷先分别评定级别，取质量级别最差的级别作为综合评级 的级别；当各类缺陷的级别相同时,取降低一级后的级别作为综合评级的质量级别。
12射线检测报告
检测报告应至少包括下述内容：
a） 制造单位、检测单位或委托单位3
b） 被检工件名称和编号；
C）检测标准和验收等级；
d） 被检工件材质,坡口型式,焊接方法,热处理状况及表面状态；
e） 检测部位和比例3
O 检测设备：名称，型号，源尺寸（或有效焦点尺寸）；
g）透照规范:检测技术等级、透照布置、胶片（牌号及其分类等级）、增感屏（类型、数量和厚度）、像 质计、滤光板、背散射屏蔽铅板、射线能量、曝光量或透照时间、射线源与胶片的相对关系、射线 源至工件表面的距离、源侧工件表面至胶片的距离、暗室处理方式和条件等，
h） 工件透照部位示意图，
i） 底片评定:底片黑度、底片像质计灵敏度、缺陷位置和性质；
j） 检测日期；
k） 检测结果及质量等级评定3
D 检测人员和审核人员签字、日期及其资格。
附录A （资料性附录） 典型透照方式示意图
AJ典型透照方式示意
图A.1〜图A.8给出了常用的典型透照方式示意图，可供确定透照布置时参考。图中d表示射线 源,F表示焦距,5表示工件至胶片距离J表示射线源至工件距离，T表示公称厚度,Dm表示管子公称 直径。
图A.1纵、环向焊接接头单壁透照方式（1）
图A.2纵、环向焊接接头单壁透照方式（2）
图A.3环向焊接接头源在中心周向透照方式
图A.4环向焊接接头源在外双壁单影透照方式（1）
图A5环向焊接接头源在外双壁单影透照方式（2）
图A6纵向焊接接头源在外双壁单影透照方式
图A.7小径曾对接环向焊接接头傾斜透照方式
图A.8小径管对接环向焊接接头垂直透照方式
注：图A.1,图A3,图A.5和图A.7为椭圆成像；图A∙2,图A.4,图A.6和图A8为重叠成像•
附录B （资料性附录）
环向对接焊接接头透照次数确定方法
BJ透照次数曲线图
对公称直径De>100 mm的对接环向焊接接头进行100%检测，所需的最少透照次数与透照方式 和透照厚度比有关,这一数值可从图B.1〜图B.4中直接査出。
a） 图B.1为源在外单壁透照对接环向焊接接头，透照厚度比K = l.l的透照次数曲线图；
b） 图B.2为用其他方式（偏心内透法和双壁单影法）透照对接环向焊接接头，透照厚度比K = Ll 的透照次数曲线图J
C）图B.3为源在外单壁透照对接环向焊接接头，透照厚度比K = 1.2的透照次数曲线图；
d）图B.4为用其他方式（偏心内透法和双壁单影法）透照对接环向焊接接头，透照厚度比K = L2 的透照次数曲线图。
B.2由图确定透照次数的方法
从图中确定透照次数的步骤是:计算出T∕D.∖D∙∕A在横坐标上找到T/D.值对应的点，过此点 画一垂直于横坐标的直线，在纵坐标上找到DJf对应的点，过此点画一垂直于纵坐标的直线；从两直 线交点所在的区域确定所需的透照次数J当交点在两区域的分界线上时,应取较大数值作为所需的最少 透照次数。
图BJ 源在外单壁透照对接环向焊接接头，透照厚度比K=IJ时的透照次数
图B.2其他方式透照对接环向焊接接头，透照厚度比K=LI时的透照次数
图B.3源在外单壁透照对接环向焊接接头，透照厚度比K=I.2时的透照次数
0.6
/7DC
图B.4其他方式透照对接环向焊接接头，透照厚度比K= 1.2时的透照次致
附录C (规范性附录) 焦点尺寸计算方法
射线源焦点形状,按图C.1所示划分为正方形、长方形、圆形、椭圆形四类,其有效焦点尺寸d分别
按式(C∙l)、式(C∙2)和式(C∙3)计算。
正方形焦点：
长方形、椭圆形焦点：
d=(a*b)∕2
圆形焦点：
d =d
(C.1 )
(C.2 )
(C.3 )
长方形
械圆形
图C1焦点形状分类
附录D （规范性附录） 专用像质计的型式和规格
D.1专用像质计的样式
专用像质计的样式如图D.1所示，丝的数目一般为5根,有特殊要求时也可为3根。
D.2专用像质计的型式、规格、材料
专用像质计的型式、规格、材料等应符合7.6的规定。
图D.1专用像质计的基本样式
附录E （规范性附录） 搭接标记的摆放位置
E∙1搭接标记的摆放位置
搭接标记的摆放位置应符合图E∙l〜图E.5所示的规定。
图EJ 平面工件或纵焊接接头 图E.2射线源到胶片距离F小于曲面工件的曲率半径
图E.3凸面朝向射线源的曲面部件 图E∙4射线源到胶片距离F大于曲面工件的曲率半径
图E.5射线源在曲面工件的曲率中心
附录F
（规范性附录） 对比试块的型式和规格
F.1对比试块
对比试块分为未焊透专用对比试块和沟槽对比试块两种。制作对比试块的材料应与被检工件的材 料相同。
F.2未焊透专用对比试块的型式、规格和尺寸
未焊透专用对比试块的型式、规格和尺寸应符合图F.1和表F.1的规定。
F.3沟槽对比试块的型式、规格和尺寸
沟槽对比试块的型式、规格和尺寸应符合图F.2和表F.2的规定。
单位为毫米
4 一/旋转 8—8旋转
C-Ott 转
b)
图FJ未焊透专用对比试块
表FJ 未焊透专用对比试块的尺寸 单位为毫米
|
管壁厚T |
第一阶厚度 TI |
偏差 |
第二阶厚度 Tl |
偏差 |
第三阶厚度 τ, |
偏差 |
|
3.5 |
1 |
O -0.06 |
0.65 |
+0.025 0 |
0.5 |
+0.025 0 |
|
4 |
1 |
0.6 |
0.4 | |||
|
5 |
1 |
0.5 |
0.25 | |||
|
6 |
1 |
0.4 |
0.1 |
单位为毫米
C
圏F.2沟槽对比试块
表F.2沟槽对比试块的尺寸
单位为毫米
|
尺寸 |
hl |
A3 |
A4 |
AS |
Al 〜hs 偏差 |
h |
h的 偏差 |
d |
d的 偏差 |
D |
D的 偏差 | ||
|
对比 块编 号 |
I |
0.3 |
0.6 |
1.2 |
1.5 |
1.8 |
0 -0.06 |
2.5 |
0 -0.10 |
1.0 |
+0.06 0 |
- |
■■ |
|
π |
0.5 |
1.0 |
1.5 |
2.0 |
2.5 |
0 -0.10 |
3.5 |
0 -0.12 |
1.0 |
+0.06 0 |
2.0 |
+0.06 0 | |
中华人民共和国
国家标准
游乐设施无损检测
第6部分:射线检测
GB/T 34370.6—2017
*
中国标准出版社出版发行 北京市朝阳区和平里西街甲2号(100029) 北京市西城区三里河北街16号(100045)
总编室:(010)68533533 发行中心：(010)51780238 读者服务部：(010)68523946
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开本880X1230 1/16 印张2.25 字数56千字 2017年10月第一版2017年10月第一次印刷
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书号：155066 • 1-55476 定价 33.00 元